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WBLZ-370 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370
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产品名称:
WBLZ-370 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370
产品型号:
WBLZ-370
产品展商:
国产
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简单介绍
WBLZ-370 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可*损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
WBLZ-370 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370
的详细介绍
电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本
型号：WBLZ-370 |
货号：ZH6915 |
产品简介
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可*损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:电磁式及高频涡流式
测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上*缘层
测定范围:电磁式：0～1500um或0～60.0mils
高频式:0～800um或0～32.0mils
测定精度 电磁式：<15um±0.3um >15um±2%
高频式:<50um±1um >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封*水按键
附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=6915
WBLZ-370 电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLZ-370 |
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