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*页 >>> 产品目录 >>> 电阻/电磁检测仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	NXALC-25 粉末电阻率测定仪型号：NXALC-25	NXALC-25 粉末电阻率测定仪型号：NXALC-25 粉末电阻率测定仪用于测量特定粒径的煅后石油焦颗粒在**的稳定压力下的电阻率；也可用于测量焦炭、沥青焦等导电颗粒的电阻率。仪器特征：本产品ISO10143 、YST587.6-2006标准要求。
	TC-03 炭块电阻率测定仪型号：TC-03	TC-03 炭块电阻率测定仪型号：TC-03 该款炭块电阻率测定仪用于测量铝用碳块的室温电阻率执行标准：执行《中华人民共和国有色金属行业标准》YS/T63.2-2006及标准ISO11713:2000 指标测定方法：按照ISO-11713规定(YS/T 63.2-2005)。
	DQZRT-100 硅棒电阻率测试仪型号：DQZRT-100	DQZRT-100 硅棒电阻率测试仪型号：DQZRT-100 电阻率测试仪基于涡流（Eddy Current）测试，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行接触、损伤的体电阻率测试。
	DQZHR-1000 单点方块电阻测试仪型号：DQZHR-1000	DQZHR-1000 单点方块电阻测试仪型号：DQZHR-1000 采用表面光电压测试，提供接触扩散片方块电阻测试损伤测试，测试造成微裂纹能适应浅结的测试，穿透PN结测试精度高，重复性好（1%）
	HJETCR-2000 多功能型钳形接地电阻仪/回路电阻测定仪型号：HJETCR-2000	HJETCR-2000 多功能型钳形接地电阻仪/回路电阻测定仪型号：HJETCR-2000 开机时间：自检需6秒，开机时间长容易造成开机错误。自检只需0.5秒，开机*完成。测量范围：0.01-1000Ω 0.01-1200Ω，量程宽。存储数据：30组 99组蜂鸣报警：* 干扰识别：*
	HJETCR-2000C 接地电阻测试仪/回路电阻测定仪型号：HJETCR-2000C	HJETCR-2000C 接地电阻测试仪/回路电阻测定仪型号：HJETCR-2000C 开机时间：自检需6秒，开机时间长容易造成开机错误。自检只需0.5秒，开机*完成。测量范围：0.01-1000Ω 0.01-1200Ω，量程宽。存储数据：30组 99组蜂鸣报警：*
	NXTPT-VI 便携式电阻率及PN型号测试仪型号：NXTPT-VI	NXTPT-VI 便携式电阻率及PN型号测试仪型号：NXTPT-VI 便携式电阻率及PN型号测试仪用于测量**硅片料，硅块料，以及头尾料。可显示硅料型号、电阻率，准确提示重掺材料。小巧轻盈，便于携带，是出差或出国采购硅料、硅棒、硅片的选择！产品特点
	NXTR-1A/1B 薄膜方块电阻测试仪型号：NXTR-1A/1B	NXTR-1A/1B 薄膜方块电阻测试仪型号：NXTR-1A/1B 可测方块电阻：适合检测硅芯，检磷棒，检硼棒，籽晶等圆柱晶体硅适用于西门子法、硅烷法等生产*多晶硅料的企业适用于物理提生产多晶硅料生产企业
	HXJ-L-1 惠斯顿电桥测电阻试验仪型号：HXJ-L-1	HXJ-L-1 惠斯顿电桥测电阻试验仪型号：HXJ-L-1 惠斯顿电桥测电阻试验仪采用物理比较法掌握电桥原理，测量中值电阻，了解电桥灵敏度，分析产生误差的原因，熟悉电阻串联和并联的关系。
	SFXH-3A 工频场强仪/工频电场近区场强仪/工频电场测定仪型号：SFXH-3A	SFXH-3A 工频场强仪/工频电场近区场强仪/工频电场测定仪型号：SFXH-3A 电磁辐射分工频与射频，市场上大多销售为射频仪器，*法检测工频场强，而进口工频场强仪器价格数万，经济性欠。
	HJ-030B 重锤式表面电阻测试仪型号：HJ-030B	HJ-030B 重锤式表面电阻测试仪型号：HJ-030B 重锤式表面电阻测试仪是通过测量物体的表面电阻，从而检测物体的*静电能力，遵循ASTM标准D-257测试方法，测试时只需把两个重锤放置在需要测量的物体表面及按下红色的按键，仪器上会显示出所测物的表面具体电阻值。
	SHY-JFZ2006 半导体粉末电阻率测试仪型号：SHY-JFZ2006	SHY-JFZ2006 半导体粉末电阻率测试仪型号：SHY-JFZ2006 本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准设计的。仪器的电流输出为 10 μA - 100 mA,电阻率测试范围为10-2 -105Ωcm ，直接采用数字显示。
	SHY-JBD86A 半导体电阻率测试仪型号：SHY-JBD86A	SHY-JBD86A 半导体电阻率测试仪型号：SHY-JBD86A 半导体电阻率测试仪是我厂推出的的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻
	SHY-JSZT2000 数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪型号：SHY-JSZT2000	SHY-JSZT2000 数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪型号：SHY-JSZT2000 数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料监测的需仪器。
	SHY-JFZ9601 碳素粉末电阻率测试仪型号：SHY-JFZ9601	SHY-JFZ9601 碳素粉末电阻率测试仪型号：SHY-JFZ9601 粉末电阻率测试仪的改进型，参照有关标准进行设计，用于粉末测量，本仪器将原单片微机的数据处理部分舍去，采用硬件进行电阻率的自动计算，使仪器的性和稳定度*加强，方便于用户，而且价格低廉，实惠。
	SHY-JFZ2000 碳素粉末电阻率测定仪型号：SHY-JFZ2000	SHY-JFZ2000 碳素粉末电阻率测定仪型号：SHY-JFZ2000 该仪器是SHY-JFZ9601型粉末电阻率测试仪的改进型，参照有关标准进行设计，将测量范围扩大测试电流增大，适用于粉末测量，和固体金属材料测量，又可以直接用数字显示电阻或电阻率值，使仪器的性和稳定性*加强，方便于用户，而且价格低廉、实惠。
	SHY-J902 炭素电电阻率仪/炭素材料电阻率测定仪型号：SHY-J902	SHY-J902 炭素电电阻率仪/炭素材料电阻率测定仪型号：SHY-J902 炭素材料电阻率测试仪是测量超低值电阻的仪器，适用于测量高功率、功率石墨的电阻率值。
	DSFC-6 高精度智能磁力仪型号：DSFC-6	DSFC-6 高精度智能磁力仪型号：DSFC-6 高精度智能磁力仪采用的稳定，具有分辨率高、精度高、性能稳定的特点。并且可以对周围干扰磁场进行校准，使仪器工作稳定。其工作方式是将探头通过RS232串口通讯与主机操作系统，读取数据、存储、显示，可通过U盘把数据导出，实现与PC机的*物探软件进行制图。
	SHY-JGD-9102 半导电电阻测试仪型号：SHY-JGD-9102	SHY-JGD-9102 半导电电阻测试仪型号：SHY-JGD-9102 工作条件：温度：23±2°C; 湿度：< 65% 测量量程：2兆欧、20兆欧、200兆欧测量误差： 2兆欧档 ±(0.5 %读数+2字) 20兆欧档 ±(2 %读数+2字) 200兆欧档 ±(3 %读数+2字)
	SHY-JDB4 电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/半导电橡塑电阻仪型号：SHY-JDB4	SHY-JDB4 电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/半导电橡塑电阻仪型号：SHY-JDB4 电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据标准GB3048.3—94研究成功的精密测量设备，主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及导电橡塑产品电阻，若换上的四端子测试夹，还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

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